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晶振測(cè)試儀測(cè)量方法

日期：2025-07-12 09:19

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摘要：

打開(kāi)包裝，將測(cè)試儀器和電源線，測(cè)試盒取出，放在干凈，通風(fēng)，無(wú)塵的環(huán)境下。操作如下：

1 將電源線一頭插入儀器的電源插座上（插緊），另一頭接入市電（220V，50-60HZ）。接通電源后，前面板左上方的綠色指示燈亮。

2 將測(cè)試盒的測(cè)試接口接入測(cè)試儀前面板插測(cè)處，（注意：接插件的缺口在插入時(shí)應(yīng)聽(tīng)到“噠”聲。）

3．打開(kāi)前面板左下方的電源開(kāi)關(guān)。即按下紅色件，當(dāng)前面示窗顯示10，000000000。同時(shí)左上方閘門指示燈亮，并閃動(dòng)。閘門時(shí)間燈：“1S”亮，功能在自校指示燈亮，右上方指示在MHZ。說(shuō)明測(cè)試儀器一切正常，此時(shí)顯示為：10MHE。

4．移動(dòng)功能鍵可選擇測(cè)頻，測(cè)誤差和頻率設(shè)置。

5．頻率的測(cè)量：前面板右邊有兩個(gè)測(cè)量接口,輸入接口可做有源信號(hào)的測(cè)試。插測(cè)接口可做晶體的測(cè)量，做測(cè)量時(shí)需用附件——晶體測(cè)試盒。（注意：兩個(gè)接口不能做同時(shí)測(cè)量。）

6.頻率誤差的測(cè)量:將功能選擇呈”誤差”.將被測(cè)晶體插入測(cè)試盒的晶體插入口,顯示窗口就可顯示被測(cè)晶體的PPM值.如被測(cè)晶體偏負(fù)，顯示窗口顯示“-”符號(hào)。如被測(cè)晶體偏正，顯示窗口則不加符號(hào)。前面板右上方單位指示在PPM上。

7．移動(dòng)鍵可改變?nèi)訒r(shí)間（即測(cè)試速度）。取樣時(shí)間分別有：0_。01S；0_。1S；1S；10S。0_.01S速度*快，10S速度*慢。為保證測(cè)試精度準(zhǔn)確，請(qǐng)盡可能慢速測(cè)量。因?yàn)槿铀俣仍娇?，精度相?duì)越低。建議用0_。1S或1S測(cè)量。

8.設(shè)置：設(shè)置是對(duì)被測(cè)頻率而設(shè)置的頻率比對(duì)標(biāo)準(zhǔn)。如被測(cè)晶體的頻率是非顛倒32_。768KHG，儀器設(shè)置頻率就顯示32_。768KHG。如改變了比對(duì)標(biāo)準(zhǔn)（即設(shè)置的頻率），所測(cè)量的結(jié)果就不準(zhǔn)確。故本儀器出廠設(shè)置在本世紀(jì)內(nèi)32_。768KHG上。如果所測(cè)晶體頻率沒(méi)有改變，不要去動(dòng)設(shè)置功能鍵。如果測(cè)量結(jié)果遠(yuǎn)離正常值，請(qǐng)查看設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)是否在所需測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)頻率上。

9．注意：前面板右下方的插測(cè)接口不能金屬短路，否則將損壞該儀器。

10．在測(cè)量1MHZ以下的頻率必須將干擾鍵按下。如不按下干擾鍵，則測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確。在測(cè)量MHZ頻率時(shí)則不可按下干擾鍵。

11．當(dāng)所測(cè)量的頻率大于5V時(shí)，請(qǐng)按下衰減鍵。

12．若由于操作不當(dāng)而造成儀器死機(jī)（即不能進(jìn)入工作狀態(tài)）可關(guān)機(jī)。將紅色鍵彈出后按上述步驟重新啟動(dòng)。

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